X'Pert Pro系列 多功能X射線衍射儀(XRD)
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
- 公司名稱 成都宇科技術(shù)開(kāi)發(fā)有限公司
- 品牌
- 型號(hào) X'Pert Pro系列
- 產(chǎn)地 荷蘭
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時(shí)間 2017/7/7 12:28:01
- 訪問(wèn)次數(shù) 12366
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X射線衍射儀(XRD)、X射線熒光光譜儀(XRF)、付立葉變換紅外光譜儀(FTIR)、拉曼光譜儀(Raman)、激光粒度儀、比表面積分析儀、掃描探針顯微鏡(SPM)和各種生化分析儀器,如DNA合序列儀、多肽合成儀、自動(dòng)菌落計(jì)數(shù)儀、凝膠成像儀、液相色譜柱、移液器等。
X’Pert Pro是帕納科公司(前飛利浦公司分析儀器部)于本世紀(jì)推出的新一代X射線衍射儀,其主要特點(diǎn)是多功能、模塊化,即光學(xué)預(yù)校準(zhǔn)的模塊化設(shè)計(jì),使各個(gè)功能模塊能夠任由用戶隨意更換,并且在幾分鐘內(nèi)即可構(gòu)造成一種功能化的光路布局,從而使多功能應(yīng)用終于能夠在一臺(tái)儀器上實(shí)現(xiàn),如常規(guī)相分析聚焦光路模式、平行光路模式、微區(qū)測(cè)量模式等。儀器還可以進(jìn)行小角散射納米粒度測(cè)定、應(yīng)力測(cè)定、織構(gòu)測(cè)定等。
1 儀器基本系統(tǒng)上的新技術(shù)
1.1 陶瓷X光管
帕納科公司(前飛利浦公司分析儀器部)設(shè)計(jì)的新型陶瓷X光管,可使用戶在如下三個(gè)方面得到zui大的收益:
(1) 重量輕:可在θ-θ型測(cè)角儀上得到過(guò)去只有在θ-2θ測(cè)角儀上才得到的精度。 這樣可使用戶在高精度的θ-θ 型測(cè)角儀上從事松散裝填樣品,液晶樣品,液-固相變和高溫樣品的測(cè)試(而此類樣品若在θ-2θ測(cè)角儀上是無(wú)法完成的)。
(2) 壽命長(zhǎng):采用設(shè)計(jì)的較以往的X光管可使工作溫度降低,延長(zhǎng)X光管的使用壽命。
(3) 準(zhǔn)確光學(xué)定位:由于陶瓷可精確機(jī)加工,因而飛利浦可以使其陶瓷X光管通過(guò)精機(jī)加工進(jìn)行準(zhǔn)確光學(xué)定位,這也是預(yù)校正光路的模.塊化得以實(shí)現(xiàn)的前提。(此項(xiàng)技術(shù)為飛利浦公司*技術(shù))
1.2 DOPS(直接光學(xué)定位系統(tǒng))
采用此項(xiàng)技術(shù),可使測(cè)角儀定位精度提高一個(gè)數(shù)量級(jí),并可克服以往步進(jìn)馬達(dá)和齒輪轉(zhuǎn)動(dòng)技術(shù)因齒輪磨損而造成測(cè)角儀的角度誤差,可保證測(cè)角儀在多年使用后仍保持準(zhǔn)確的角度測(cè)量。
2. zui快的聚焦光路探測(cè)器:X’Celerator超能探測(cè)器
X’Celerator新型超能探測(cè)器能夠在不降低分辨率的前提下使每秒計(jì)數(shù)率提高100倍,因此靈敏度得到大大提高,甚至于在18kW高功率的儀器上錄不到的譜峰都可在此探測(cè)器下得到很強(qiáng)的信號(hào)。從另外一個(gè)方面說(shuō),在得到相同的譜圖質(zhì)量的前提下,可減少錄譜時(shí)間100倍,對(duì)完成動(dòng)態(tài)反應(yīng)和相變實(shí)驗(yàn)極為有利。X’Celerator 超能探測(cè)器亦采用 帕納科公司*的 PreFIX 預(yù)校準(zhǔn)模塊化設(shè)計(jì),能方便地與其他光學(xué)模塊或探測(cè)器進(jìn)行互換。
3. *的FPX模塊……即預(yù)校準(zhǔn)光路的模塊技術(shù)
3.1 所有光學(xué)模塊在出廠前均經(jīng)過(guò)光學(xué)預(yù)校準(zhǔn),在用戶現(xiàn)場(chǎng)安裝或更換光學(xué)模塊時(shí),操作方便,無(wú)需校準(zhǔn)光路,整個(gè)過(guò)程可在兩分鐘內(nèi)完成。
3.2 入射光路,接收光路和樣品臺(tái)均采用模塊化設(shè)計(jì), 可進(jìn)行快速更換, 更換時(shí)間不超過(guò)5分鐘。
3.3 因此在多用途的X衍射研究工作中,唯有X’PertPro可以將X衍射的所有功能,例如:聚集光路,平行光路,不同樣品臺(tái),正比計(jì)數(shù)管和PSD等以zui快的速度(不超過(guò)10分鐘)更換且不用重調(diào)光路,zui大限度地發(fā)揮了各種功能的作用,大大提高了研究工作的效率,而且由于預(yù)校準(zhǔn)光路,功能更換后立即可進(jìn)行測(cè)試,并且一種模塊被再次換上后能保證測(cè)試數(shù)據(jù)*重合。
3.4 儀器出廠后十年內(nèi)發(fā)展的新光學(xué)技術(shù)都制成與之配套的模塊, 為儀器的可持續(xù)發(fā)展提供了一個(gè)良好的平臺(tái)。
4. 新型光學(xué)模塊
由于采用了Mirror、 Hybrid,、Lens等新型光學(xué)模塊,提高了光的利用效率 ( 例如平行光路提高30-50倍)。 在不增加光管功率的前提下,大大提高了強(qiáng)度,可使用戶在低消耗、高效率下完成許多困難樣品的測(cè)試。
1 儀器基本系統(tǒng)上的新技術(shù)
1.1 陶瓷X光管
帕納科公司(前飛利浦公司分析儀器部)設(shè)計(jì)的新型陶瓷X光管,可使用戶在如下三個(gè)方面得到zui大的收益:
(1) 重量輕:可在θ-θ型測(cè)角儀上得到過(guò)去只有在θ-2θ測(cè)角儀上才得到的精度。 這樣可使用戶在高精度的θ-θ 型測(cè)角儀上從事松散裝填樣品,液晶樣品,液-固相變和高溫樣品的測(cè)試(而此類樣品若在θ-2θ測(cè)角儀上是無(wú)法完成的)。
(2) 壽命長(zhǎng):采用設(shè)計(jì)的較以往的X光管可使工作溫度降低,延長(zhǎng)X光管的使用壽命。
(3) 準(zhǔn)確光學(xué)定位:由于陶瓷可精確機(jī)加工,因而飛利浦可以使其陶瓷X光管通過(guò)精機(jī)加工進(jìn)行準(zhǔn)確光學(xué)定位,這也是預(yù)校正光路的模.塊化得以實(shí)現(xiàn)的前提。(此項(xiàng)技術(shù)為飛利浦公司*技術(shù))
1.2 DOPS(直接光學(xué)定位系統(tǒng))
采用此項(xiàng)技術(shù),可使測(cè)角儀定位精度提高一個(gè)數(shù)量級(jí),并可克服以往步進(jìn)馬達(dá)和齒輪轉(zhuǎn)動(dòng)技術(shù)因齒輪磨損而造成測(cè)角儀的角度誤差,可保證測(cè)角儀在多年使用后仍保持準(zhǔn)確的角度測(cè)量。
2. zui快的聚焦光路探測(cè)器:X’Celerator超能探測(cè)器
X’Celerator新型超能探測(cè)器能夠在不降低分辨率的前提下使每秒計(jì)數(shù)率提高100倍,因此靈敏度得到大大提高,甚至于在18kW高功率的儀器上錄不到的譜峰都可在此探測(cè)器下得到很強(qiáng)的信號(hào)。從另外一個(gè)方面說(shuō),在得到相同的譜圖質(zhì)量的前提下,可減少錄譜時(shí)間100倍,對(duì)完成動(dòng)態(tài)反應(yīng)和相變實(shí)驗(yàn)極為有利。X’Celerator 超能探測(cè)器亦采用 帕納科公司*的 PreFIX 預(yù)校準(zhǔn)模塊化設(shè)計(jì),能方便地與其他光學(xué)模塊或探測(cè)器進(jìn)行互換。
3. *的FPX模塊……即預(yù)校準(zhǔn)光路的模塊技術(shù)
3.1 所有光學(xué)模塊在出廠前均經(jīng)過(guò)光學(xué)預(yù)校準(zhǔn),在用戶現(xiàn)場(chǎng)安裝或更換光學(xué)模塊時(shí),操作方便,無(wú)需校準(zhǔn)光路,整個(gè)過(guò)程可在兩分鐘內(nèi)完成。
3.2 入射光路,接收光路和樣品臺(tái)均采用模塊化設(shè)計(jì), 可進(jìn)行快速更換, 更換時(shí)間不超過(guò)5分鐘。
3.3 因此在多用途的X衍射研究工作中,唯有X’PertPro可以將X衍射的所有功能,例如:聚集光路,平行光路,不同樣品臺(tái),正比計(jì)數(shù)管和PSD等以zui快的速度(不超過(guò)10分鐘)更換且不用重調(diào)光路,zui大限度地發(fā)揮了各種功能的作用,大大提高了研究工作的效率,而且由于預(yù)校準(zhǔn)光路,功能更換后立即可進(jìn)行測(cè)試,并且一種模塊被再次換上后能保證測(cè)試數(shù)據(jù)*重合。
3.4 儀器出廠后十年內(nèi)發(fā)展的新光學(xué)技術(shù)都制成與之配套的模塊, 為儀器的可持續(xù)發(fā)展提供了一個(gè)良好的平臺(tái)。
4. 新型光學(xué)模塊
由于采用了Mirror、 Hybrid,、Lens等新型光學(xué)模塊,提高了光的利用效率 ( 例如平行光路提高30-50倍)。 在不增加光管功率的前提下,大大提高了強(qiáng)度,可使用戶在低消耗、高效率下完成許多困難樣品的測(cè)試。