微探針臺系統(tǒng)micro probe system可植入顯微鏡中,把顯微鏡改造成探針臺系統(tǒng),實現(xiàn)微操作和微測量功能。
微探針臺系統(tǒng)能夠把現(xiàn)有光學顯微鏡升級成高精度和高穩(wěn)定性的壓電微操縱儀器,非常適合緊湊空間和較短工作距離的顯微鏡使用。適合如下種類的顯微鏡：

正置顯微鏡和倒置顯微鏡

探針臺

半導體檢測儀器

原子力顯微鏡

手套箱和各種環(huán)境箱

這款

微探針臺系統(tǒng)非常適合較小的半導體器件的測試,可配備4個微操縱器模塊，可用于電控放大倍數(shù)的顯微鏡和XY樣品臺。

這款

微探針臺系統(tǒng)可以根據(jù)應用要求進行晶圓測試配置，滿足亞微米尺度電學性能測試需要。我們可為您提供XYZ晶圓加載卡盤，提供制冷和加熱功能等集成方案。
微探針臺系統(tǒng)典型應用

電學微探針：測量半導體器件或晶圓的電學性能

材料測試：測試新材料的電學性能

微操縱：對微小器件進行微操作微操縱

微探針臺系統(tǒng)規(guī)格參數(shù)

顯微鏡部分

光學分辨率：約1.1um

放大倍數(shù)：2.8X~35.5X（物鏡10X)

工作距離：33.5mm

照明光源：同軸照明LED,光強可調

相機：1920x1200像素，USB3.0接口

焦距可調

樣品臺規(guī)格:手動XY位移臺,行程10mm x 10mm, 分辨率0.5mm

樣品尺寸：25.4mm 直徑

電學探針規(guī)格：

接口：4個BNC接口

電壓范圍：+/-100V

電流范圍：1pA~100mA

電阻：約為3.5V

探針臺模塊規(guī)格

自由度：4個獨立的自由度X,Y,Z,Qz

最大速度：2.5mm/s(XY), 150mrad/s(Z)

運動范圍： Stepping模式：20x20mm(XY), +/-180度（Qz), 42度（Z)

最大定位分辨率：Stepping模式下:50nm(X,Y), 120nm(Z)

探針規(guī)格：0.02'' (0.51mm) shank直徑，針尖半徑5nm~10um