F50 薄膜厚度測量儀
依靠F50的光譜測量系統(tǒng)，可以簡單且快速地獲得直徑450毫米的樣品薄膜的厚度分布圖。采用r-θ極坐標(biāo)移動平臺，可以快速的定位所需測試的點并測試厚度，測試非常快速，大約每秒能測試兩點。用戶可以自己繪制需要的點位地圖。F50系統(tǒng)配置精度高使用壽命長的移動平臺，以求能夠做成千上萬次測量。
產(chǎn)品名稱： F50薄膜厚度測量儀 品牌： Filmetrics 產(chǎn)品型號： F50 產(chǎn)地： 美國
自動化薄膜厚度繪圖系統(tǒng)
依靠F50的光譜測量系統(tǒng)，可以簡單且快速地獲得直徑450毫米的樣品薄膜的厚度分布圖。采用r-θ極坐標(biāo)移動平臺，可以快速的定位所需測試的點并測試厚度，測試非常快速，大約每秒能測試兩點。用戶可以自己繪制需要的點位地圖。F50系統(tǒng)配置精度高使用壽命長的移動平臺，以求能夠做成千上萬次測量。
系統(tǒng)中預(yù)設(shè)了許多極坐標(biāo)形、方形和線性的圖形模式，也可以編輯自己需要的測試點。只需掌握基本電腦技術(shù)便可在幾分鐘內(nèi)建立自己需要的圖形模式。
可測樣品膜層
基本上光滑的，非金屬的薄膜可以測量?？蓽y樣品包括：
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