Agilent安捷倫HP4286A 4278A LCR測試儀 1 MHz至1 GHz   

Agilent安捷倫HP4286A 4278A LCR測試儀

Agilent安捷倫HP4286A 4278A LCR測試儀

158=8930=0166/135=1050=0080 V同

4286A 是 Agilent 的 1 GHz LCR 儀表。LCR 表是一種電子測試設備，用于測量電子元件的電感 (L)、電容 (C) 和電阻 (R)。LCR 儀表可準確測量電子設備上的這些元素，通常是使用交流 (AC) 電壓源的電子設備。LCR 表測量通過被測設備的電流和電壓

附加的功能:

1 MHz至1 GHz，10 kHz步進

1%基本精度

高速測量：15ms

帶有APC-3.5測試頭的1 m/3 m電纜

Keysight 4286A RF LCR表提供精確、可靠的測量，以便提高電子元器件或電路設計的質(zhì)量和性能。與反射測量技術(shù)不同，Keysight 4,286A使用直接的電流－電壓測量技術(shù)，可在廣泛的阻抗范圍內(nèi)提供更精確的阻抗測量結(jié)果。而且，由于*的校準技術(shù)（典型的Q精度：6% @ 100 MHz，Q=100），還可以極大地改進Q測量。因此，通過在射頻范圍內(nèi)測量設備的真實阻抗值，您將能夠顯著降低設計的不確定度。

4286A 適于在射頻范圍對電子元器件進行測試。4286A的測量非常快。此外，在小測試電流(100μA)處

優(yōu)良的測試重復性還可以顯著提高生產(chǎn)率，因為所需的取平均過程非常短。

系統(tǒng)組建簡單

測試頭電纜(1m或利用延伸電纜時為2m)很容易接到(元件固定裝置的)被測件接點附近，而不會使誤差有任何增大。內(nèi)置比較器功能、高速GPIB接口和處理器接口可用來簡化與元件固定裝置和PC機的組合。增強的比較器功能可以使復雜的倉室適用于多頻或陣列芯片測試。

便于使用

8.4英寸彩色顯示器能清楚觀察測量設置和結(jié)果。新研制的用戶接口使操作過程更為方便且無差錯。內(nèi)置統(tǒng)計分析功能可以提供監(jiān)視測試質(zhì)量和效率的過程。可選用的LAN接口有助于統(tǒng)一進行生產(chǎn)監(jiān)控。此外，若干APC-7 SMD測試夾具可以與4286所提供的夾具架和APC-3.5轉(zhuǎn)APC-7適配器聯(lián)用，從而無需制作夾具。 

信號發(fā)生器或信號源

按頻率分類：

3G信號源:E4421B,E4432B,E4436B, sme03,R&S smiq03,R&S smt03,R&S smV03,R&S SMU200A,

6G信號源:HP8665B,E4438C, E4432B, N5182B,N5182A,R&S SMW200A,R&S SMBV100A,N5172B,N5171B

高頻信號源：N5183B，N5183A,E8257D,E8247C,E8267D,N5173B

網(wǎng)絡分析儀

按頻率分類：

3G網(wǎng)絡分析儀:HP8713C,8714ET,8753D,8753E,8753ES,E5062A,zvl03,R3765CH,R3765CG

6G網(wǎng)絡分析儀:HP8753D,8753E,8753ES

8.5G網(wǎng)絡分析儀:E5071C，E5071B,E5080A,E5063A,ZVB8,ZNB8

高頻網(wǎng)絡分析儀：8720ES,8722ES,N5224A,N5225A,N5242A,N5244A,N5245A,N5235A,N5225B,N5245B,E8362B,E8363B,E8364B,E8361C,E8364C,ZNB20,ZVA24,ZVA67,ZVA40,ZVB20,ZNB40

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